用于密码芯片的前馈异或安全扫描结构

摘要：

扫描结构在给密码芯片增加可测性的同时也可能被不当使用为旁路攻击路径,使密码芯片的密钥信息泄露.为解决这个问题,提出一种前馈异或安全扫描结构.首先将异或安全扫描寄存器引入扫描结构中,该结构对测试图形进行输入/输出线性变换,实现对测试图形的硬件加密；然后分析了该结构的安全性并给出其测试图形生成算法.实验结果表明,文中提出的安全扫描结构能抗击基于扫描结构的旁路攻击和复位攻击,并保留了传统扫描结构的高测试覆盖率.

关键词：密码芯片、扫描测试、旁路攻击、复位攻击

所属期刊栏目：24

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金61002003;国家科技重大专项课题2009ZX02023-004-1;浙江省自然科学基金Z1111051

在线出版日期：2012-07-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：728-733