C-V模型与工业CT相结合的几何测量方法

摘要：

针对工业生产中复杂封闭内腔几何尺寸很难测量的问题,提出一种基于C-V模型的工业CT几何测量方法.首先利用C-V模型提取目标边缘坐标点的有序链码,然后利用Green定理和欧氏距离公式计算目标区域的面积和周长.在提取目标边缘坐标点的步骤中,把边缘灰度先验知识融入C-V模型以提高测量精度；在计算目标区域的面积和周长的过程中,合理地选择目标边缘有序坐标点和插值有序坐标点,再一次提高几何测量精度.实验结果表明,与2D Facet模型测量方法相比,文中方法测量精度约提高1个数量级；并已将该方法应用于实际中.

关键词：工业CT、C-V模型、几何测量

所属期刊栏目：24

分类号：TP391(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金50974075;湖南省自然科学基金09JJ5037

在线出版日期：2012-10-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：649-655