基于扫描D触发器的可逆电路测试综合方法

摘要：

为了实现可逆逻辑电路的可测性设计,充分利用可逆逻辑电路中存在的输出引脚,提出一种可逆逻辑电路测试综合方法.通过定义可逆逻辑门的可观性值和可控性值的计算方法,对可逆逻辑电路的可测性进行建模；通过插入观察点,制定了可逆组合逻辑电路可测性实现方案；通过对现有的D触发器进行改造并构建全新的扫描D触发器,制定了可逆时序电路的可测性逻辑实现方案；最后分析了扫描D触发器的工作特点,规范了测试步骤,建立一种可逆逻辑电路的测试综合方法.实验结果表明,与现有方法相比,文中方法插入观察点代价平均增加不到1％,但电路的可观性平均能得到24％的改善.

关键词：测试综合、可测性设计、可逆电路

所属期刊栏目：24

分类号：TP306.2(计算技术、计算机技术)

资助基金：山东省中青年科学家科研奖励基金项目BS2009DX024;黑龙江省教育厅基金项目12511373

在线出版日期：2012-07-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：420-426