FPGA测试配置完备性的分析评价方法

摘要：

测试配置开发是FPGA测试中的重要环节之一,为加快FPGA测试配置开发进程,提出一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法.首先建立FPGA基本可编程单元的配置词典,给出其完备测试需要的所有配置码；然后采用模板化的方法分析测试配置,计算测试配置对配置词典的覆盖率；最后根据计算的覆盖率评价测试配置的完备性.实验结果表明,文中方法能够正确地评价测试配置的完备程度,报告测试配置所有可测和不可测的FPGA资源；与故障仿真方法相比,该方法的时间复杂度从O(kpn2)减少到O(kn′),运行时间从数百小时缩短到几分钟,且运行时间独立于FPGA的阵列规模.

关键词：FPGA、测试覆盖率、故障仿真、测试配置

所属期刊栏目：23

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家重大科学研究计划2011CB933202

在线出版日期：2012-02-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：1672-1679