考虑工作负载影响的电路老化预测方法

摘要：

晶体管老化效应已成为影响集成电路可靠性的重要因素.文中基于晶体管老化效应的物理模型,提出一种电路老化分析框架来预测集成电路在其服务生命期内的最大老化.首先计算出在最坏操作情况下电路老化的上限值;随后通过考虑工作负载和电路的逻辑拓扑对老化效应的影响,采用非线性规划求得会导致最大电路老化的最差占空比组合.实验结果表明,与同类方法相比,该老化分析框架对电路老化的预测具有更高的精度,更接近于电路在实际工作条件下的老化情况.

关键词：负偏置温度不稳定性、电路老化、占空比、非线性优化

所属期刊栏目：22

分类号：TP306+.2(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金60806014,60633060,60776031,60921002;国家自然科学基金委员会与香港研究资助局联合科研基金60831160526

在线出版日期：2011-01-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：2242-2249