嵌入式SRAM测试算法及其诊断实现

摘要：

为有效定位和识别嵌入式静态随机访问存储器(SRAM)中的各种故障,改进SRAM的设计和生产流程,提出一种有效的Marchl9N(N表示存储器的深度)测试算法.把故障注入64×8位的SRAM;再将测试算法的读/写操作转化为控制器的控制状态,并设计带诊断支持功能的内建自测试(BIST)模块;最后用该BIST模块测试注入的故障,并对测试数据进行比较与合成,从而实现故障的测试和定位.通过对仿真实验结果的分析,得出了包括固定型故障、开路故障、跳变故障、跳变耦合故障、幂等耦合故障、状态耦合故障和地址译码故障在内的故障字典表;并由此得出各类故障所具有的不同的故障识别标志,表明文中算法具有较高的故障分辨率.

关键词：SRAM、BIST、故障字典表、故障识别标志、故障分辨率

所属期刊栏目：22

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金90505013,60871009

在线出版日期：2010-07-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：865-870