用扫描链重构来提高EFDR编码的测试压缩率和降低测试功耗

摘要：

为了解决系统芯片测试中日益增长的测试数据和测试功耗的问题,提出一种不影响芯片正常逻辑功能的扫描链重构算法--Run-Reduced-Reconfiguration(3R).该算法针对扩展频率导向游程(EFDR)编码来重排序扫描链和调整扫描单元极性,重新组织测试数据,减少了游程的数量.从而大人提高了EFDR编码的测试压缩率并降低测试功耗;分析了扫描链调整对布线长度带来的影响后,给出了权衡压缩率和布线长度的解决方案.在ISCAS89基准电路上的实验结果表明,使用3R算法后,测试压缩率提高了52%,测试移位功耗降低了53%.

关键词：测试数据压缩、测试功耗、游程编码、扫描链排序

所属期刊栏目：21

分类号：TP391.76(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家"八六三"高技术研究发展计划2006AA010202

在线出版日期：2009-11-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：1290-1297