三坐标测量机一般表面上的自适应采样规划
针对CAD模型已知的三坐标测量机一般表面(连续或非连续的基本特征表面)上的常用采样策略中存在的问题,提出一种自适应采样方法,并对测量边和面的情况分别给出了具体的采样算法.通过对选取的表面进行分析,采取步长自适应再分迭代自动规划出相应数目的采样点分布;并使采样点达到均匀分布且避开非连续区域.实验结果表明,该方法对于各种复杂情况的一般表面都有比较好的适应性,弥补了随机采样难以均匀化和基于数字序列采样对表面要求完整连续的不足.
CAD/CMM、采样策略、自适应再分、检测规划
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TP391.76(计算技术、计算机技术)
科技部科技型中小企业技术创新基金04C26223400148
2009-06-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共8页
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