SoC测试访问机制和测试壳的蚁群联合优化

摘要：

针对系统级芯片(SoC)测试壳优化和测试访问机制的测试总线划分问题,提出了基于蚁群算法的SoC Wrapper/TAM联合优化方法.构造蚁群算法时首先进行IP核的测试壳优化,用于缩短最长扫描链长度,减少单个IP核的测试时间;在此基础上进行TAM结构的蚁群优化,通过算法迭代逼近测试总线的最优划分,从而缩短SoC测试时间.对ITC2002基准SoC电路进行实验的结果表明,该方法能有效地解决SoC测试优化问题.

关键词：测试壳、蚁群算法、测试访问机制、系统芯片

所属期刊栏目：21

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：广东省自然科学基金5300314;深圳市科技计划项目SZKJ-2007019

在线出版日期：2009-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：461-466