面向最大串扰噪声的测试生成方法

摘要：

随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.为此提出一种面向受害线上最大串扰噪声的测试生成方法,该方法基于多串扰脉冲故障模型,能够有效地模型化故障并生成合适的向量.为了能够激活尽可能多的侵略线以造成受害线上的最大脉冲噪声,首先将测试生成问题转化为一个加权的最大可满足问题,再使用解题器求解,以得到测试向量;此外,将子通路约束加入到可满足问题的描述之中,以保证所有被激活的侵略线能够同时跳变.针对ISCAS89电路的实验结果显示,文中方法适用于较大规模电路的串扰噪声测试,并且具有可接受的运行时间.

关键词：串扰、集成电路测试、测试生成、最大可满足问题

所属期刊栏目：21

分类号：TP303(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金60606008,60633060,60776031;国家"八六三"高技术研究发展计划2007AA01Z476;国家"九七三"重点基础研究发展计划项目2005CB321605

在线出版日期：2009-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：448-453