基于PTIDR编码的测试数据压缩算法

摘要：

为减少测试数据存储量,提出一种有效的新型测试数据压缩编码--PTIDR编码,并构建了基于该编码的压缩/解压缩方案.PTIDR编码能够取得比FDR,EFDR, Alternating FDR等编码更高的压缩率,其解码器也较简单、易实现,且能有效地降低硬件开销.与Selective Huffman, CDCR编码相比,PTIDR编码能够得到较高的压缩率面积开销比.特别地,在差分测试集中0的概率满足p≥0.7610时,PTIDR编码能取得比FDR编码更高的压缩率,从而降低芯片测试成本.

关键词：测试数据压缩、哈夫曼编码、FDR编码、PTIDR编码

所属期刊栏目：20

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金90207018;60576030

在线出版日期：2008-05-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：161-166