工艺参数变化下的基于统计时序分析的时钟偏差安排

摘要：

针对工艺参数变化的情况,提出一种成品率驱动的时钟偏差安排算法.提出统计时序约束图的概念,利用统计时序分析的结果将时序电路转换为统计时序约束图;将寻找关键环问题转换为最小费用/时间比值环问题,并按比例分配关键环中的时钟偏差的安全余量.实验结果表明,该算法有助于提高集成电路的成品率.

关键词：时钟偏差、统计时序分析、统计时序约束图、成品率

所属期刊栏目：19

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金90307017;60676018;国家重点基础研究发展计划973计划2005CB321701;教育部跨世纪优秀人才培养计划;上海市自然科学基金04JC14015;05JC14007;上海市应用材料研究与发展项目0418;高等学校博士学科点专项科研项目20050246082

在线出版日期：2007-10-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1172-1177