约束输入精简的多扫描链BIST方案

摘要：

运用有约束的输入精简、LFSR编码与折叠计数器技术,实现了对确定性测试集的压缩与生成.其主要优点是将多种测试方法有机地结合在一起,充分地发挥了各种方法在压缩测试数据方面的优势.与国际上同类方法相比,该方案需要的测试数据存储容量更少,测试应用时间明显缩短,总体性能得到提升;并且能够很好地适应于传统的EDA设计流.

关键词：内建自测试、输入精简、线性反馈移位寄存器、折叠计数器、多扫描链、测试数据压缩

所属期刊栏目：19

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金90407008;国家自然科学基金60633060;安徽省自然科学基金050420103

在线出版日期：2007-04-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：371-375