一种基于图模式匹配的逻辑单元映射算法

摘要：

基于数学中图模式匹配的概念,根据电路特征在子图同构算法中加入图约束条件,研究了针对不同结构的FPGA逻辑单元都能适用的映射算法FDUMap.实验中应用FDUMap将测试电路映射到不同的逻辑单元中.该算法比现有的专用的逻辑单元映射算法通用性更好,而平均性能上仅相差3%.

关键词：逻辑单元映射、工艺映射、图模式匹配、现场可编程门阵列

所属期刊栏目：18

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划2005AA1Z1230;国家自然科学基金60076014;上海市应用材料科技合作共同计划AM0406

在线出版日期：2006-12-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1850-1854