嵌入式处理器在片调试功能的设计与实现

摘要：

以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了嵌入式处理器中在片调试功能的设计实现方法.通过扩充IEEEP1149.1协议的JTAG测试访问端口(TAP),并在处理器内部增加控制模块,实现了软件调试断点、调试中断、硬件断点以及单步执行等多种在片调试功能.调试主机只需要通过一根JTAG调试电缆就可以访问目标处理器内部寄存器等各种资源,并控制目标处理器的运行过程,实现了处理器的在片调试功能,大大地方便了软件开发与系统调试.

关键词：在片调试、IEEE P1149.1、JTAG、龙芯1号处理器

所属期刊栏目：18

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

资助基金：中国科学院知识创新工程项目;国家高技术研究发展计划863计划KGCX2-109;国家科技攻关项目20041080

在线出版日期：2006-08-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1005-1010