SoC测试集成的研究环境构建

摘要：

构建了一个具有结构和功能信息的研究环境,供与SoC测试集成相关的研究使用.该环境是一个包含典型功能模块和可测性设计(design for test,DFT)方法的SoC电路,其结构化的特点使它能应用于测试接口的设计与优化、测试访问机制的设计与优化、测试调度、基于P1500标准的测试集成方案设计等众多研究领域.

关键词：SoC、测试集成、测试访问机制、P1500

所属期刊栏目：18

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金90207016

在线出版日期：2006-08-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：988-993