寄存器传输级测试用例生成算法

摘要：

基于控制流图/数据流图层次模型,以分支覆盖、位功能覆盖以及语句可观测覆盖为目标,给出一个高层次测试用例生成算法,并最终实现一种可行的RTL级测试生成算法.实验结果表明,在较少的测试生成时间下,该算法可生成相对短的测试序列,得到与其他方法相当或略差的测试效果.此外,该算法因采用了测试用例技术而具有良好的灵活性.

关键词：集成电路、自动测试生成、寄存器传输级、测试用例

所属期刊栏目：17

分类号：TP391.72(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划2002AA1111002002AA110010

在线出版日期：2005-11-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：2053-2060