拓扑图格独立分量分析和谱聚类支持的纹理探测

摘要：

提出的纹理探测方法首先采用拓扑图格独立分量分析(TICA)分别对每个观测纹理进行学习,获得分离基.分离基的作用相当于滤波器,并通过最大响应准则得到选择.从不同纹理选择的滤波器构成一个滤波器集;为了计算探测点的纹理特征,测试图像被分解为滤波器通道.最后,探测点被视为谱图的顶点,根据谱聚类(SC)对谱图的切分结果,递归地分离出探测点.实验结果表明,这一方法行之有效.

关键词：纹理探测、拓扑图格独立分量分析、谱聚类、分离基、最大响应准则、滤波器通道

所属期刊栏目：17

分类号：TP391.4(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划2001AA231031;国家重点基础研究发展计划973计划G1998030608;国家科技攻关项目2001BA904B08;中国科学院计算技术研究所资助项目20026180-4

在线出版日期：2005-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：935-940