针对嵌入式Cache的内建自测试算法

摘要：

通过分析嵌入式Cache存储器中使用的双端口字定向静态存储器(SRAM)和内容可寻址存储器(CAM)的功能故障模型,提出了有效地针对嵌入式应用的DS-March CE和DC-March CE测试算法,解决了以往算法用于嵌入式系统时故障覆盖率低或测试时间长导致测试效率低的问题.利用March CE算法并结合Cache系统的电路结构特点,设计并实现了一套集中管理的内建自测试测试方案.此方案可以并行测试Cache系统中不同容量、不同端口类型的存储器,并且能够测试地址变换表(TLB)的特殊结构,测试部分面积不到整个Cache系统的2%.

关键词：双端口字定向静态存储器、双端口定向可寻址存储器、功能故障模型、内建自测试

所属期刊栏目：17

分类号：TP331(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2005-02-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：110-118