减少多种子内建自测试方法硬件开销的有效途径

摘要：

提出一个基于重复播种的新颖的BIST方案,该方案使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩;通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 .实验表明,该方案需要外加硬件少,测试施加时间较短,故障覆盖率高,近似等于所依赖的ATPG工具的故障覆盖率 .在扼要回顾常见的确定性BIST方案的基础上,着重介绍了文中的压缩存储硬件的方法、合成方法和实验结果.

关键词：线性反馈移位寄存器、种子、随机向量难测故障、随意位

所属期刊栏目：15

分类号：TP402

资助基金：国家自然科学基金60173042

在线出版日期：2003-08-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：662-666,672