10.3321/j.issn:1003-9775.2003.04.023
针对多时钟扫描测试的可测性设计方法
在数字集成电路设计和生产中,基于扫描的测试方法是重要的可测性设计(design-for-test)技术.在多时钟的扫描测试设计中,不同时钟域之间信号的交叉会增加测试矢量的数目,从而增加了测试的成本.采用新的可测性设计方法,在扫描测试时用多路选通器隔断时钟域之间的交叉信号,使得原来处于不同捕获时钟组的时钟被分配到相同的时钟组中,在故障覆盖率基本不变的同时,减少测试矢量,降低测试成本.经实验验证,文中新的可测性设计方法可以明显地减少测试矢量数目,而且便于在RTL级加入.
可测性设计、扫描测试、测试矢量、捕获时钟组
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TP302.8(计算技术、计算机技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
500-502,508