改进的部分扫描触发器选择的方法

摘要：

研究了部分扫描触发器的选择,对原有的基于状态密度的方法做了一些改进,提出一种综合的、基于故障可控性和可观性的扫描触发器选择的方法,并分析了扫描触发器对电路时序特性的影响.在对ISCAS 89标准电路的模拟中,该方法对大部分电路可以减少选择的扫描触发器的个数,提高测试效率和测试覆盖率.

关键词：部分扫描、可控性、可观性、扫描触发器选择、故障模拟

所属期刊栏目：14

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金60073032;国家重点实验室基金

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：218-221