OBDD在组合逻辑电路测试中的应用研究

摘要：

传统的组合逻辑电路测试方法在搜索过程中都不可避免地要进行反向回溯，由于反向回溯的次数过多，往往会降低算法的效率.文中利用OBDD来表示电路中每个节点所代表的逻辑函数，把传统算法中的反向回溯过程转换为OBDD图的问题，从而加快了故障测试的速度.同时，OBDD在测试矢量集的生成以及必要值的确定中也显示出一定的优越性.

关键词：组合逻辑电路、故障检测、测试生成、OBDD

所属期刊栏目：13

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：美国国家科学基金5978 EastAsia and Pacific Program-9602485

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：495-499