混合技术电路板簇测试的多边界扫描链优化配置

摘要：

由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在,板中由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界扫描测试领域重要而富有实际价值的问题.为减少其测试时间,基于贪婪策略和单扫描链最优排序技术,提出了一种多边界扫描链优化配置技术.经实例验证表明,该技术可以有效地减少混合技术电路板簇测试时间,提高测试效率.

关键词：边界扫描、簇测试、混合技术电路板

所属期刊栏目：12

分类号：TN70(基本电子电路)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：792-795