使用逻辑分析仪调试时序问题

摘要：

@@ 在今天的数字世界,嵌入式系统比以往任何时候都更为复杂.使用速度更快、功耗更低的设备和功能更强大的电路,工程师需要考虑信号完整性问题.在调试和验证过程中,大部分数字电路失效可以追溯到信号完整性问题.本文将讨论如何使用逻辑分析仪的特性和功能来解决这些和时序相关的问题,以快速,方便地找到设计问题的根源.

机标关键词：逻辑分析仪、时序问题

分类号：TP391;TP216;TM935

在线出版日期：2009-09-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：47-50