提高DFT设计测试覆盖率的一种有效方法

摘要：

@@ 伴随着现代大规模集成电路制造工艺的快速发展,设计工程师必需直面芯片制造过程中可能产生的物理缺陷.现今流行的可测试性设计(DFT:Design For Testability)应运而生,并为保证芯片的良品率担任着越来越重要的角色.

机标关键词：测试覆盖率、设计测试、有效方法

分类号：TP311.52;TN407;G434

在线出版日期：2008-06-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：41-42