使用单能X射线辐射装置对CdTe探测效率的实验刻度

摘要：

CdTe探测器对单能平行光子源的绝对测量之前,需要进行效率刻度.利用MCNP5蒙特卡罗模拟程序建立CdTe探测器物理模型,模拟计算了 10～260 keV能量段能点的本征探测效率,在10～60 keV能量段探测效率高于75％.用单能X射线装置和HPGe探测器对CdTe探测器本征探测效率进行了实验刻度.结果表明,在10～100 keV能量范围内CdTe探测器的模拟效率与实验效率趋势一致,最大误差不超过5.6％.因为Te元素在27 keV和32 keV处会产生逃逸峰,导致探测效率在这2个能量处有明显下降趋势.用241Am和133Ba放射源对CdTe探测器进行效率刻度验证,在能量为59.54 keV和81 keV放射源标定的探测效率与单能X射线辐射装置测量值相符.

关键词：计量学、CdTe探测器、本征探测效率、蒙特卡罗、探测效率刻度

所属期刊栏目：43

分类号：TB98(计量学)

资助基金：中国计量科学研究院基本科研业务费AKYZZ2115

在线出版日期：2022-11-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1366-1370