基于FCM优化的平面阵列电容成像算法

摘要：

为提高平面阵列电容成像系统的成像精度,提出了一种基于FCM数据优化的成像算法.根据平面阵列电极电容数据的特点,为减小电容测量误差对介电常数的影响,利用FCM算法对测量电容值的不断收敛以实现数据优化的作用,在减弱噪声的同时提高电容值数据的稳定性.在此基础上,对一种隔热材料胶层进行缺陷检测实验,使重建图像的相关系数得到了提高,减小了图像重建误差.实验结果表明:图像重建结果的优化算法可获得更加稳定、有效的电容数据,胶层缺陷图像重建精度具有较大提升.

关键词：计量学、胶层缺陷图像重建、隔热复合材料、FCM算法、平面阵列传感器、电容层析成像

所属期刊栏目：41

分类号：TB971;TP212.1(计量学)

资助基金：国家自然科学基金;河北省自然科学基金

在线出版日期：2020-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：231-237