10.3969/j.issn.1000-1158.2017.05.15
低温标准黑体辐射源的性能研究
利用半导体制冷技术与热管技术,研制了低温达-30℃的新型低温黑体辐射源.通过实验得到其温度稳定性优于0.02℃/20 min,均温区腔壁的轴向温度均匀性优于0.3℃,热管空腔有效发射率计算值大于0.9992.利用基于光线跟踪技术的Monte Carlo方法,计算得出该热管空腔发射率从中心到边缘位置的变化规律为逐渐减小的趋势,发射率的平均变化率仅为0.06‰,说明轴向温场均匀性对法向平均有效发射率的影响较小.
计量学、低温黑体、热管、发射率、均匀性、稳定性
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TB942(计量学)
国家质检公益性行业科研专项200910106
2017-10-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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589-592