关于光学元件波面测量中的功率谱密度

摘要：

讨论了光学件波面检测中,采用功率谱密度(PSD)作为重要评价参数的原因、相关的国际标准、PSD计算方法及PSD结果的评价准则等.虽然所进行的讨论主要是针对高功率激光系统中的光学元件检测,但对于其它应用领域的检测也是有借鉴意义的.

关键词：计量学、波面测量、功率谱密度、光学元件

所属期刊栏目：24

分类号：TB96(计量学)

资助基金：上海市青年科技启明星计划01QA14201

在线出版日期：2004-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：103-107