10.3321/j.issn:1000-1158.2000.03.003
表面形貌焦点跟踪测量方法的研究
介绍了一种新型的基于聚焦探测法的自动焦点跟踪传感器,该传感器可实现表面形貌的快速、非接触测量,其垂直测量范围为500μm,最高分辨率为3nm.文中详细叙述了该传感器的工作原理、关键技术的实现及其应用.
表面形貌、非接触测量、聚焦探测、伺服控制
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TB92(计量学)
中国科学院资助项目59575083
2004-02-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
173-177