10.3969/j.issn.1001-5078.2020.05.009
一种碲镉汞长波红外探测器暗电流测试方法
碲镉汞红外焦平面探测器的暗电流一般是在无法接受到外界热辐射的状态下进行测试,这种测试方法需要在特殊的杜瓦结构里进行测试,只能在实验室进行测试.本文介绍了一种在实际应用杜瓦结构中评价碲镉汞长波红外探测器暗电流的测试方法,该方法不需要改变组件结构,仅通过常规的性能测试和利用理论公式计算就可得到暗电流数值.对320×256长波碲镉汞探测器组件的试验结果表明,用该方法得到的暗电流结果与实验室得到的暗电流结果非常接近,可作为红外焦平面探测器暗电流评估的快捷方法.
红外探测器、焦平面、暗电流
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TN215(光电子技术、激光技术)
2020-06-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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