10.3969/j.issn.1001-5078.2019.09.011
红外探测器辐照机理分析及辐照试验验证
红外探测器处于太空或辐射环境会受到各种辐射粒子作用,其性能会发生衰减.本文主要分析了各种辐射效应对HgCdTe红外探测器性能影响机理.针对红外探测器复合钝化加固方法,ROIC环源环栅加固方法进行试验验证.辐照试验显示,加固后的红外探测器互联抗辐照读出电路,其抗总剂量、抗剂量率及抗中子辐射位移达到了比较好抗辐照效果.
HgCdTe、红外探测器、抗辐照
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TN214(光电子技术、激光技术)
2019-10-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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