10.3969/j.issn.1001-5078.2019.06.015
InAs/GaSbⅡ类超晶格电学性能研究
为了提高InAs/GaSb超晶格探测器性能和工作温度,研究了超晶格吸收层载流子输运性能.利用分子束外延在半绝缘GaAs衬底上生长InAs/GaSb超晶格材料,用霍尔测试表征材料电学性能,研究了不同条件,包括退火、束流比和在超晶格不同材料层的掺杂对超晶格电学性能的影响.
InAs/GaSb、Ⅱ类超晶格、电学性能、霍尔测试
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TN213(光电子技术、激光技术)
2019-07-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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