短/中波双色碲镉汞红外焦平面探测器研究

摘要：

报道了基于分子束外延碲镉汞短/中波双色材料、器件的最新研究进展.采用分子束外延方法制备出了高质量的短/中波双色碲镉汞材料,并优化了材料的质量,材料表面缺陷密度控制在500个/cm-2以内,通过扫描电子显微镜可以看出各层之间界面陡峭,使用傅里叶红外变换光谱仪(FTIR)、X射线衍射(XRD)等方法对材料进行了表征,基于此材料制备出了短/中波碲镉汞双色器件,器件测试性能良好.

关键词：碲镉汞、短/中波双色、红外探测器、分子束外延

所属期刊栏目：48

分类号：TN213(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2019-01-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1395-1398