深度连续渐变式空腔阵列表面发射率研究

摘要：

为测量混合式表面的发射率,该文设计了一系列阵列作为发射率样品,发射率样品为深度连续渐变式空腔阵列,将其划分为5个单元组成,使用红外热像仪对发射率样品上端拍摄热图像得到一系列发射率.通过理论计算得出发射率,通过实验测量单元表面发射率,将理论计算值与实验测量值进行对比,探讨深度连续渐变式空腔阵列在不同加热温度下对表面发射率的影响.结果表明:随着加热温度的升高,深度连续渐变式空腔阵列的表面发射率会下降;随着空腔深度的增加,深度连续渐变式空腔阵列的表面发射率会随之增加.

关键词：空腔阵列、连续渐变式、表面发射率、红外热像仪

所属期刊栏目：48

分类号：TN219(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家科技重大专项2015ZX02101

在线出版日期：2019-01-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1386-1390