红外焦平面探测器杜瓦组件杂散辐射研究

摘要：

在对红外焦平面探测器杜瓦组件杂散辐射分析的过程中,建立了分析模型,通过对模型进行光线追迹,找到了窗片、滤光片、冷屏、探测器芯片的反射是产生杂散辐射的原因.针对这些原因,采取了相应抑制杂散辐射的方式,包括通过镀膜降低窗片、滤光片反射率,通过发黑、设计多层隔板来提高冷屏的吸收能力,通过在探测器芯片上制作可靠性高的微纳结构来降低表面反射率等,起到了较好的效果.

关键词：杂散辐射、抑制、减反射

所属期刊栏目：48

分类号：TN214(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2018-10-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1108-1112