红外焦平面探测器成像中的重影现象

摘要：

在一款256×256中波红外探测器成像中,发现了成像重影,这种重影严重影响图像质量.特别是探测微弱目标时,对目标的识别和捕获会产生严重的干扰.本文介绍了专用红外焦平面点源实验平台,对成像重影的数据特性进行了分析,并通过机理分析和实验比较定位了引起成像重影的原因.成像重影是由于测试电路阻抗不匹配及带宽不够造成的,通过改进测试电路消除了这种重影.

关键词：红外焦平面阵列、成像重影、测试电路

所属期刊栏目：48

分类号：TN214(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2018-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：493-496