10.3969/j.issn.1001-5078.2015.06.010
Si 基短波碲镉汞材料分子束外延生长研究
报道了在中波工艺基础上,Si 基碲镉汞分子束外延短波工艺的最新研究进展,通过温度标定、使用反射式高能电子衍射、高温计的在线测量和现有的中波 Si 基碲镉汞温度控制曲线建立及优化了 Si 基碲镉汞短波材料的生长温度控制曲线;获得的 Si 基短波 HgCdTe 材料表面光亮、均匀,表面缺陷密度小于3000 cm -2;基于此技术成功制备出了 Si 基短/中波双色材料。
硅基碲镉汞、分子束外延、短波碲镉汞外延、短/中波双色碲镉汞
TN213(光电子技术、激光技术)
2015-07-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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