TC R矫正对非制冷探测器微桥热导测试的影响

摘要：

VO2薄膜的电阻温度系数TCR（Temperature Coefficient of Resistance，用α表示）随温度改变会发生显著变化。因此，以VO2薄膜为热敏材料的非制冷探测器微桥像元采用1/R-（-αI2）曲线来测量微桥热导时，如果使用固定TCR数值，必然会对测量结果带来偏差。本文采用TCR逐点矫正的方法测量了非制冷微桥热导，并分析了有效热导，实验中的最大热导矫正率达到20．08％。采用本方法可使非制冷探测器微桥的热导测试结果更为准确，也更具有实际应用价值。

关键词：非制冷探测器、热导、有效热导、电阻温度系数、微桥

分类号：TN219(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2014-07-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：629-632