10.3969/j.issn.1001-5078.2013.09.17
红外测径仪YPIR-QT的应用及改进
高质量锗单晶材料在信息产业、航空航天和国防军工等高新技术领域应用广泛.直拉法为锗单晶生长的主要方法,单晶直径检测是直拉法的重要环节.本文介绍锗单晶直拉法生长过程中,红外测径仪YPIR-QT的应用情况,对单晶直径进行测量,其输出信号作为单晶直径控制系统的反馈信号;同时,对红外测径仪YPIR-QT的智能化改进提出简要阐述.
直拉法、智能化改进、红外测径仪YPIR-QT
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TN219(光电子技术、激光技术)
2013-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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