红外焦平面探测器杜瓦组件真空寿命分析

摘要：

介绍了探测器杜瓦组件的加速寿命试验方法,对用于某机载红外热成像系统长波576 ×6 HgCdTe红外焦平面探测器组件的无维护真空寿命进行了分析,结果表明,产品真空寿命超过10年(可靠度为95%),满足产品应用要求.

关键词：探测器组件、真空寿命、寿命加速

所属期刊栏目：41

分类号：TB65;TN215(制冷工程)

在线出版日期：2011-11-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：779-783