一种新的半导体激光器线宽展宽因数测量算法

摘要：

在外腔波动情况下,根据光反馈自混合干涉系统不同反馈机制下的干涉信号特征,设计了由一个周期内信号特征点在靠近振动中心位置的下条纹中相对应的映射点位置测量线宽展宽因数的算法.通过仿真和实验验证:与以往算法相比,本文设计的算法不受光反馈水平机制的限制.线宽展宽因数的精确测量对于半导体激光器性能的研究与应用具有重要意义.

关键词：光反馈自混合干涉、线宽展宽因数、映射点位置测量、反馈机制

所属期刊栏目：41

分类号：TN248.4(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金项目60871031

在线出版日期：2011-04-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：155-159