含双缺陷光子晶体的缺陷模特性及应用

摘要：

利用传输矩阵法,计算了含双缺陷的一维准周期光子晶体的透射谱,并分析了缺陷模的特征.结果表明:当两缺陷层的折射率为1时,该光子晶体的透射谱有一包含可见光所有波长的带隙.而当两缺陷层的折射率为1.1时,原带隙中产生了一缺陷模,且此缺陷模的位置和透射峰值都随两缺陷层折射率不同而变化.折射率越大,缺陷模位置对应的波长越长,缺陷模的峰值也越大.利用缺陷模的这一特性,可以设计一种微型的烟雾传感器.

关键词：光子晶体、传感器、传输矩阵、透射谱、缺陷模

所属期刊栏目：40

分类号：O734(晶体物理)

在线出版日期：2010-05-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：431-433