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10.3969/j.issn.1001-5078.2009.08.023

太赫兹光谱分析中用误差理论确定样品厚度的研究

引用
太赫兹(1 THz=1012 Hz)时域光谱作为一种新型的光谱探测技术,被广泛用来研究各种材料在远红外频谱范围内的光学特性.在太赫兹透射光谱分析中,多数情况下需要知道被测样品的厚度,才能准确提取样品的光学参数.然而,有些样品的厚度不宜测量准确甚至不能直接测量.文中介绍和讨论了利用误差理论给出了准确确定样品厚度的同时提取样品的太赫兹波段光学参数的方法,该方法可以广泛应用于该类样品的太赫兹透射谱分析过程.

太赫兹光谱、太赫兹波段光学参数、样品厚度、误差理论

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O433.4(光学)

2009-09-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

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激光与红外

1001-5078

11-2436/TN

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2009,39(8)

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