红外焦平面读出电路辐射特性研究

摘要：

红外焦平面阵列在宇宙空间中使用时,受到各种辐射导致性能退化甚至功能失效.作为红外焦平面阵列的重要组成部分,CMOS读出电路受到各种辐射主要体现为电离辐射效应.通过对红外焦平面CMOS读出电路进行空间模拟辐射实验后,测试读出电路的功能以及性能参数,研究了辐射对读出电路的影响.实验结果为红外焦平面CMOS读出电路的抗辐射设计提供了参考依据.

关键词：红外焦平面、读出电路、辐射效应

所属期刊栏目：39

分类号：TN215(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2009-09-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：868-871