10.3969/j.issn.1001-5078.2007.z1.001
碲锌镉缓冲层液相外延技术的研究
文章报道了采用液相外延方法,在碲锌镉衬底上进行碲锌镉薄膜缓冲层生长的情况,并且采用X光双晶衍射仪、X光形貌仪、红外傅里叶光谱仪、二次离子质谱仪等手段对碲锌镉薄膜进行了表征,碲锌镉薄膜具有较好地组分及均匀性,晶体结构质量也较好.采用碲锌镉缓冲结构生长了碲镉汞液相外延片,其碲锌镉与碲镉汞薄膜界面附近的杂质得到了有效的控制.
碲锌镉薄膜、液相外延、薄膜特性
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TN304.054(半导体技术)
2007-11-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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