逐行复位快闪式CMOS焦平面读出电路的测试方法

摘要：

介绍了一种逐行复位快闪CMOS焦平面读出电路的测试方法及测试结果.该电路基于电荷转移原理,采用逐行复位方式.基于测试考虑,设计了模拟光电流的测试管,和可调节的工作时序.设计了一种新的测试方法测量出了内部寄生参量.除此以外对电路的其他重要参数进行了详细测量.

关键词：焦平面、读出电路、测试方法

所属期刊栏目：34

分类号：TN46(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：电子预研基金41308020102

在线出版日期：2005-02-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：460-463