激光二极管寿命测试方法研究

摘要：

文中介绍了半导体激光二极管(LD)寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此设计了LD高温加速寿命自动测试系统.系统通过采集恒流工作LD的平均输出光功率随时间变化的信息,绘制LD的老化曲线,即恒流条件下的P-t曲线,或通过采集恒功工作LD的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I-t曲线,然后推断LD正常条件下的使用寿命.

关键词：激光二极管、高温老化、寿命测试、激活能

所属期刊栏目：34

分类号：TN365;TN407(半导体技术)

在线出版日期：2004-06-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：124-127