磁光记录薄膜磁光特性参数测量的外推方法

摘要：

本文采用自制的一种磁光特性测试仪器和Romberg外推算法，对于SONY公司的一种640M直接重写磁光盘，在245～350K温度范围内，获得它完整的磁光温度特性，包括克尔角与温度的关系曲线和矫顽力与温度的关系曲线。其结果与理论模型彷真的结果一致。

关键词：外推算法、插值、磁光薄膜、克尔效应、磁光特性测量

所属期刊栏目：31

分类号：TQ597.91

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：115-117